يستخدم هذا الموقع ملفات تعريف الارتباط "cookies"
يستخدم هذا الموقع ملفات تعريف الارتباط. لمزيد من المعلومات حول كيفية استخدامنا لملفات تعريف الارتباط ، يمكنك قراءة إشعار الخصوصية وملفات تعريف الارتباط الخاص بنا. ملفات تعريف الارتباط وسياسة الخصوصية
الصفحة الرئيسيةBooks, Movies and MusicScience & Technology BooksTechnology & Engineering BooksWafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits - 1st Edition
/product/81/524125/1.jpg?0755)
مشاركة هذا المنتج
1,023.00 جنيه
1 units left
شحن مجاني الي 6 اكتوبر
0 out of 5
(لا يتوفر تقييم)اختار خيارات أخري
عروض
التوصيل والارجاع
اختار العنوان
محطة الاستلام
شحن مجاني
جاهز للإستلام من ٠٩ ديسمبر إلى ١١ ديسمبر إذا أكملت طلبك خلال 5hrs 32mins
توصيل للمنزل
مصاريف الشحن 25.00 جنيه
جاهز للتوصيل من ٠٩ ديسمبر إلى ١١ ديسمبر إذا أكملت طلبك خلال 5hrs 32mins
سياسة الارجاع
يمكنك إرجاع المنتج مجانًا خلال 14 يوم من الاستلام إذا كان مؤهلًا للإرجاع. يجب الإبلاغ عن أي عيوب ظاهرية خلال 48 ساعة.لمزيد من التفاصيل راجع سياسة الإسترجاع
بيانات البائع
Fun Station90
96%تقييم البائع
20 المتابعين
أداء البائع
معدل سرعه توصيل الطلب: جيد
تقييم الجودة: ممتاز
تقييم العملاء: ممتاز
مواصفات المنتج
اختبار مستوى الرقاقة واختبار أثناء الاحتراق للدوائر المتكاملة هو دليل شامل يغطي جميع جوانب اختبار الرقاقة وعمليات الاحتراق، مما يجعله مرجعًا أساسيًا للمهندسين والباحثين في هذا المجال.
مميزات الكتاب
- تغطية شاملة: استكشاف متعمق لعمليات اختبار مستوى الرقاقة وعمليات الاحتراق.
- رؤى موثوقة: مساهمات من خبراء معترف بهم في هذا المجال.
- رقم ISBN: 9781596939899
- لون الكتاب الأصلي: الكتاب الأصلي.
لماذا تختار هذا الكتاب؟
يعد هذا الكتاب مرجعًا مثاليًا لفهم عمليات اختبار الدوائر المتكاملة، حيث يوفر رؤى متعمقة وأساليب عملية من قبل خبراء في المجال.
الأسئلة الشائعة
- س: من هم المؤلفون؟
ج: الكتاب من تأليف سودارشان باهوكودومبي وكريشنيندو تشاكرابارتي. - س: متى تم نشر الكتاب؟
ج: تم نشر الكتاب في عام 2010. - س: ما هو رقم ISBN للكتاب؟
ج: رقم ISBN هو 9781596939899.
المواصفات
المواصفات الرئيسية
اختبار مستوى الرقاقة واختبار أثناء الاحتراق للدوائر المتكاملة (أرتك هاوس أنظمة ميكرو إلكترونية) ، الطبعة: 1 تأليف باهوكودومبي - سودارشان تشاكرابارتي - كريشنندو - الناشر أرتك هاوس حقوق النشر: 2010 ISBN - 9781596939899
المواصفات
- SKU: GE810BM1CJCF1NAFAMZ
- GTIN Barcode: 9781596939899
- اللون: original Book
آراء العملاء الموثقة
لم يتم تقييم المنتج بعد
نتائج مشابهة
Fundamentals of engineering booksMattress with cooling technologyEngineering models kitsLego engine setFunnel for engine oilStirling engine toyPower engineering textbooksLego fire engine setPower washers with honda enginesBook for electronic technologiesBooks on platform engineeringEngineering books for kidsBooks about kids and technologyMoveable recliner with technologyTechnology for littles at homeBioland technology glucose metersPortable fan with cooling technologyEngineering box for kidsEngineer kets for kidsAir tag technology for eyeglassesDeadbolt lock with fingerprint technologyDigital technology hearing amplifiersEngineering toys for girlsStem engineering toysFinger print scan technology lockersCraft design technology fountain penHigh vibration sonic technology toothbrushAudio engine a5 wirelessLego engine creation setHonda pilot engine coverMotorized bike engine coverLittle engine that could toysToyota sequoia engine coverBabolat gt technology tennis racketLed technology long neck ledLed technology qd mini ledHighspeed folding fan with cooling technologySmart modular technologies ddr4 ramBlue book money bookCheck engine led lightMotorcraft 10w30 engine oilEngine cover for honda radgelineEngineering toy boxes nameDegreaser spray for engine oilLube and cleaner for lifters and enginesRocket engine kits for kidsNylon cord for small engineToyota camry engine coverToyota sienna engine coverG technology external hard drive 5tb
/product/81/524125/1.jpg?0755)
Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits - 1st Edition
1,023.00 جنيه